MATERIAALIMIKROSKOOPIT

Nikon_logo

Eclipse L200N NWL200 Wafer Loader
Eclipse LV150N Eclipse LV100ND

Käänteismikroskoopit

Eclipse MA200 Eclipse MA100N

Polarisaatiomikroskoopit

ECLIPSE LV100N POL ECLIPSE Ci-POL

Nikon ECLIPSE L300N(D) ja L200N(D)

Nikon_logo

Nikon ECLIPSE L300ND

Nikonin tunnustettu CFI60-optiikka, jykevä rakenne ja ergonominen muotoilu tekevät näistä mikroskoopeista ylivoimaisen työkalun piikiekkojen tarkasteluun.

Eclipse L200N/L300N tilting eyepiece

Eclipse L300N ergonomic design

Mikroskoopin XYZ-motorisointi lisää työskentelyn tehokkuutta, stagen XY-liikettä ja fokusointia ohjataan joystickilla ja NIS-Elements -ohjelmalla.

Nikon-case: PragmatIC Semiconductor hyödyntää tutkimuksissaan L300ND-mikroskooppia ja NIS-Elements-ohjelmaa ("Integrated circuits inspected faster and more accurately by using a Nikon microscope") pdf_link

Lataa Nikon ECLIPSE L200N/L300N esite tästäpdf_link

Piikiekkolaturi Nikon NWL200 Wafer Loader

Nikon_logo

Nikon NWL200 wafer loader

Nikon NWL200 -kiekkolaturilla piikiekkojen siirto mikroskoopille ja takaisin kasettiin tapahtuu nopeasti, tarkasti ja automaattisesti. Mikroskopoinnin lisäksi kiekon visuaalinen tarkastelu kiekkolaturin makrotoiminnoilla (surface, backside center, backside edge).

Lataa Nikon NWL200 Wafer Loader -esite tästäpdf_link

Katso Youtubessa Nikon Metrologyn NWL200 Wafer Loader -esittelyvideo:

Nikon NWL200 wafer loader

Ota yhteyttä meihin lisätietoja varten

Nikon ECLIPSE LV -sarja

Nikon ECLIPSE LV -materiaalimikroskoopit soveltuvat erinomaisesti monipuolisiin teollisuuden sovelluksiin.

Nikonin huippulaadukkaat CFI60-2 objektiivit tarjoavat korkean numeerisen apertuurin ja pitkän työskentelyetäisyyden.

Tarjolla on laaja valikoima havaintomenetelmiä (katso tarkemmin mallikohtaiset esittelyt alla)

Nikon ECLIPSE LV150N

Nikon_logo

Nikon ECLIPSE LV150N

Nikon ECLIPSE LV150N havaintomenetelmät

Lataa Nikon Eclipse LV-N -mikroskooppien esite tästäpdf_link

Ota yhteyttä meihin lisätietoja varten

Nikon ECLIPSE LV150NA

Nikon_logo

Nikon ECLIPSE LV150NA

Nikon ECLIPSE LV150NA havaintomenetelmät

Lataa Nikon Eclipse LV-N -mikroskooppien esite tästäpdf_link

Ota yhteyttä meihin lisätietoja varten

Nikon ECLIPSE LV100ND

Nikon_logo

Nikon ECLIPSE LV100ND

Nikon ECLIPSE LV100ND havaintomenetelmät

Lataa Nikon Eclipse LV-N -mikroskooppien esite tästäpdf_link

Ota yhteyttä meihin lisätietoja varten

Nikon ECLIPSE LV100NDA

Nikon_logo

Nikon ECLIPSE LV100NDA

Nikon ECLIPSE LV100NDA havaintomenetelmät

Lataa Nikon Eclipse LV-N -mikroskooppien esite tästäpdf_link

Ota yhteyttä meihin lisätietoja varten

Nikon ECLIPSE MA200 -käänteismikroskooppi

Nikon_logo

Nikon Eclipse MA200

ECLIPSE MA200 on innovatiivisesti muotoiltu materiaalikäänteismikroskooppi, jossa digitaalinen kuvantaminen ja ergonominen tehokkuus on optimoitu.

Nikon Eclipse MA200 front panel

Lataa Nikon ECLIPSE MA100N ja MA200 -esite tästäpdf_link

Ota yhteyttä meihin lisätietoja varten

Nikon ECLIPSE MA100N -käänteismikroskooppi

Nikon_logo

Nikon ECLIPSE MA100N

ECLIPSE MA100N on kompakti käänteismikroskooppi, joka soveltuu erinomaisesti metallurgiseen tutkimukseen ja elektronisten komponenttien tarkasteluun sekä tuotannon materiaalitutkimukseen ja laaduntarkkailuun.

Nikon MA-SR-N Rectangular Stage

Lataa Nikon ECLIPSE MA100N ja MA200 -esite tästäpdf_link

Ota yhteyttä meihin lisätietoja varten

Nikon ECLIPSE LV100N POL ja Ci-POL -polarisaatiomikroskoopit

Nikon_logo

Nikon ECLIPSE LV100N POL ja Ci-POL -polarisaatiomikroskoopit

Nikon POL 30 mm long focus range

Nikon LV-UEPI-N illuminator

Nikon POL microscopes accessories

Nikon ECLIPSE LV100N POL -polarisaatiomikroskooppi

Nikon_logo

Nikon ECLIPSE LV100N POL

Laadukas polarisaatiomikroskooppi, joka palvelee monipuolisesti laajaa valikoimaa erilaisia sovelluksia

Lataa Nikon ECLIPSE LV100N POL ja Ci-POL -esite tästäpdf_link

Ota yhteyttä meihin lisätietoja varten

Nikon ECLIPSE Ci-POL -polarisaatiomikroskooppi

Nikon_logo

Nikon ECLIPSE Ci-POL

ECLIPSE Ci-POL on kompaktisti muotoiltu polarisaatiomikroskooppi, jossa yhdistyvät hyvä optinen suorituskyky ja helppokäyttöisyys

Lataa Nikon ECLIPSE LV100N POL ja Ci-POL -esite tästäpdf_link

Ota yhteyttä meihin lisätietoja varten

Nikon on johtava optisten instrumenttien valmistaja. Yhtiö on perustettu Japanissa vuonna 1917.

Yli 100-vuotisen toimintansa aikana Nikon on kehittänyt edistyneitä ja tinkimättömän laadukkaita mikroskooppeja ja muita optisia laitteita.

Tänä päivänä Nikon Metrology tarjoaa laajan tuotevalikoiman mikroskopia- ja mittalaitteita.

Nikon_logo

Nikon Metrology product groups

Ota yhteyttä lisätietoja varten.

Stereomikroskoopit-sivulle Materiaalimikroskoopit-sivulle Automaatio-sivulle
Mikroskooppitarvikkeet-sivulle Mikroskooppikamerat-sivulle Kuva-analyysi-sivulle
Jason yhteystietoihin
Jaso Oy
Tuulimyllyntie 4
14200 Turenki
y-tunnus: 1057298-5
Puhelin: 03 68 78 797
e-mail: jaso@jaso.fi
Tietosuojaseloste