GALLERIA - MIKROSKOOPIT

Esimerkkiasiakastapauksia

PragmatIC Semiconductor hyödyntää tutkimuksissaan L300ND-mikroskooppia ja NIS-Elements-ohjelmaa

("Integrated circuits inspected faster and more accurately by using a Nikon microscope")

Nikon ECLIPSE L300ND

Nikon Metrology addresses the challenges of measuring graphene

Nikon Metrology addresses the challenges of measuring graphene

osio vaihtuu

Mikroskooppikuvia

Nämä pienoiskuvat ovat linkkejä joita klikkaamalla voit avata kuvan suuremmassa koossa

Kameran kenno (Nikon Eclipse LV 150) Lasikuidun pää (Nikon Eclipse LV 150) Kolikko(Nikon SMZ800)
Kameran kenno Lasikuidun pää Inositolikide
Ammoniumnitraatti (Novex B) Pallografiittivalurauta (Nikon Eclipse MA200) 10mm pultti kantavarsiliitos (Novex RZT)
Ammoniumnitraatti Pallografiittivalurauta 10mm pultti kantavarsiliitos
Piirilevy (Nikon SMZ745T) Piirilevy (Nikon SMZ745T) Piirilevy (Nikon SMZ745T)
Piirilevy Piirilevy Piirilevy
Betonin huokoisuus, Lajiteltu Betonin huokoisuus, Kuva-analyysi Inositolikiteet, Mitattu
Betonin huokoisuus Betonin huokoisuus kuva-analyysi Inositolikide

osio vaihtuu

Nikon MM-200-mittamikroskooppi:

Nikon MM-200 Nikon MM-200 Nikon MM-200
Nikon MM-200 Nikon MM-200 Nikon MM-200
osio vaihtuu
Stereomikroskoopit-sivulle Materiaalimikroskoopit-sivulle Mikroskooppikamerat-sivulle
Mikroskooppitarvikkeet-sivulle Kuva-analyysi-sivulle Automaatio-sivulle
Jason yhteystietoihin
osio vaihtuu
Jaso Oy
Tuulimyllyntie 4
14200 Turenki
y-tunnus: 1057298-5
Puhelin: 03 68 78 797
e-mail: jaso@jaso.fi
Tietosuojaseloste

osio vaihtuu