GALLERIA - MIKROSKOOPIT

Esimerkkiasiakastapauksia

Nikon Metrology addresses the challenges of measuring graphene

Nikon Metrology addresses the challenges of measuring graphene

osio vaihtuu

Mikroskooppikuvia

Nämä pienoiskuvat ovat linkkejä joita klikkaamalla voit avata kuvan suuremmassa koossa

Kameran kenno (Nikon Eclipse LV 150)Kameran kenno Lasikuidun pää (Nikon Eclipse LV 150)Lasikuidun pää Kolikko(Nikon SMZ800)Inositolikide
Ammoniumnitraatti (Novex B)Ammoniumnitraatti Pallografiittivalurauta (Nikon Eclipse MA200)Pallografiittivalurauta 10mm pultti kantavarsiliitos (Novex RZT)10mm pultti kantavarsiliitos
Piirilevy (Nikon SMZ745T)Piirilevy Piirilevy (Nikon SMZ745T) Piirilevy (Nikon SMZ745T)Piirilevy
Betonin huokoisuus, LajiteltuBetonin huokoisuus Betonin huokoisuus, Kuva-analyysiBetonin huokoisuus kuva-analyysi Inositolikiteet, MitattuInositolikide

osio vaihtuu

Nikon MM-200-mittamikroskooppi:

Nikon MM-200 Nikon MM-200 Nikon MM-200
Nikon MM-200 Nikon MM-200 Nikon MM-200
osio vaihtuu
Stereomikroskoopit-sivulle Materiaalimikroskoopit-sivulle Biologiamikroskoopit-sivulle
Mikroskooppikamerat-sivulle SEM-sivulle Mikroskooppitarvikkeet-sivulle
Kuva-analyysi-sivulle Automaatio-sivulle Jason yhteystietoihin
osio vaihtuu
Jaso Oy
Tuulimyllyntie 4
14200 Turenki
y-tunnus: 1057298-5
Puhelin: 03 68 78 797
e-mail: jaso@jaso.fi
Tietosuojaseloste

osio vaihtuu