WHITE LIGHT INTERFEROMETRIC MICROSCOPE SYSTEM

Nikon BW Series

Nikon_logo

Nikon_BW-S50x

Accurate sub-nano-surface profiler with non-contact measurement

Nikon’s proprietary scanning-type optical interference measurement technology achieves 1 picometer (pm) height resolution. Nikon offers a variety of optical microscopes as measurement systems to suit a wide range of measurement applications.

KEY BENEFITS

Superior measurement performance

Wide range of observation methods

Lataa Nikon -BW-sarjan esite tästä pdf_link

Ota yhteyttä meihin lisätietoja varten

osio vaihtuu

SiC Wafer: Sub-nano-level measurement in a wide range of magnifications

Type: BW-D501 system, Subject: Silicon Carbide (SiC) Wafer

Silicon-Carbide-SiC-Wafer-2.5x

Sa 0.483nm, Sq 0.645nm, Sz 7.460nm

Silicon-Carbide-SiC-Wafer-5x

Sa 0.302nm, Sq 0.401nm, Sz 11.187nm

Silicon-Carbide-SiC-Wafer-10x

Sa 0.144nm, Sq 0.545nm, Sz 121.859nm

Silicon-Carbide-SiC-Wafer-50x

Sa 0.391nm, Sq 0.495nm, Sz 3.934nm

Silicon-Carbide-SiC-Wafer-100x

Sa 0.306nm, Sq 0.398nm, Sz 3.264nm

osio vaihtuu

Nano-level measurement of razor-edge with high-magnification lens

Subject: Razor-edge

BW nano-level measurement of razor-edge

osio vaihtuu

Surface roughness of paper (Synthetic, Plain, Gloss, Matte)

Surface roughness of synthetic paper

Surface roughness of synthetic paper

Surface roughness of gloss paper

 Surface roughness of gloss paper

Surface roughness of plain paper

Surface roughness of plain paper

Surface roughness of matte paper

Surface roughness of matte paper

osio vaihtuu

Surface roughness of ceramics

BW Surface roughness of ceramics

osio vaihtuu

Precise surface measurements for micrometer-range rough surfaces

Type: BW-A501 system, Subject: Membrane of synthesized diamond using in-liquid plasma chemical vapor deposition, Photos courtesy of Ph.D. Hiromichi Toyota, Ehime University Graduate School of Science and Engineering

BW Precise surface measurement

osio vaihtuu

IC package: Micrometer-range measurement in a wide range of magnifications

BW IC Package Micrometer range measurement in a wide range of magnifications

osio vaihtuu

Height calibration with the NIST-certified VLSI standard

BW Height calibration with the NIST-certified VLSI standard

osio vaihtuu

BW-D501 system

BW-D501 system
osio vaihtuu

Nikon on johtava optisten instrumenttien valmistaja. Yhtiö on perustettu Japanissa vuonna 1917.

Yli 100-vuotisen toimintansa aikana Nikon on kehittänyt edistyneitä ja tinkimättömän laadukkaita mikroskooppeja ja muita optisia laitteita.

Tänä päivänä Nikon Metrology tarjoaa laajan tuotevalikoiman mikroskopia- ja mittalaitteita.

Nikon_logo

Lataa Nikon -BW-sarjan esite tästä pdf_link

Lataa Nikon -BW-case study tästä pdf_link

Ota yhteyttä lisätietoja varten.

osio vaihtuu
Mittamikroskoopit-sivulle Videomittalaitteet-sivulle Profilometrit-sivulle
osio vaihtuu
Jaso Oy
Tuulimyllyntie 4
14200 Turenki
y-tunnus: 1057298-5
Puhelin: 03 68 78 797
e-mail: jaso@jaso.fi
Tietosuojaseloste

osio vaihtuu